TEM小室的三种常规检查方法分享

　　随着电磁兼容检测技术的发展和提高，人们正针对不同的电子电器产品寻求更为简单便捷的检测方法，尤其对于小型的电子产品，如：电动玩具、集成电路(PCB板)、汽车电子零部件等。

　　TEM小室的测量主要是由测试场地和测试仪器组成，常规的检测方法有屏蔽室法、开阔场法、电波暗室法等：

　　1、屏蔽室：在EMC测试中，屏蔽室能提供环境电平低而恒定的电磁环境，它为测量精度的提高，测量的可靠性和重复性的改善带来了较大的潜力。但是由于被测设备在屏蔽室中产生的干扰信号通过屏蔽室的六个面产生无规则的漫反射，特别是在辐射发射测量和辐射敏感度测量中表现更严重，导致在屏蔽室内形成驻波而产生较大的测量误差。

　　2、开阔场：根据标准要求通常测试场地成椭圆形，长轴是焦距的两倍，短轴是焦距的倍，发射与接收天线分别置椭圆的两个焦点上。两个焦点的距离即是所要求的测量距离，根据现有标准可分为3米、10米和30米。我国现有标准大多数规定3米法测量，美国的FCC标准、英国的VDE标准要求10米法测量。开阔场一般选择远离市区、电磁环境较好的地方建造，但这给建造、试验、生活管理等带来了诸多不便，并且维修维护成本较高。

　　3、电波暗室：通常所说的电波暗室在结构上大都由屏蔽室和吸波材料两部分组成。在工程应用中又分全电波暗室(fullyanechoicchamber)(六面装有吸波材料)和半电波暗室(semianechoicchamber)(地面为金属反射面)。全电波暗室可充当标准天线的校准场地，半电波暗室可作为EMC试验场地。电波暗室的主要性能指标有“静区”、“工作频率范围”等六个(静区是指射频吸波室内受反射干扰弱的区域)。

　　希望上述内容能够帮助大家更好的了解本产品。