浅述GTEM小室在电磁检测当中的应用

　　GTEM小室构成的辐射敏感度测试系统为小型电子产品的辐射电磁场干扰敏感性提供有力的测试依据。测试系统构成：主要由标准信号源、功率放大器、场强监视器、计算机及操控软件和GTEM小室室体组成。

　　电磁兼容性的测量手段主要是由测试场地和测试仪器组成。常规的电磁兼容检测方法有屏蔽室法、开阔场法、电波暗室法等。

　　屏蔽室：在EMC测试中，屏蔽室能提供环境电平低而恒定的电磁环境，它为测量精度的提高，测量的可靠性和重复性的改善带来了较大的潜力。但是由于被测设备在屏蔽室中产生的干扰信号通过屏蔽室的六个面产生无规则的漫反射，特别是在辐射发射测量和辐射敏感度测量中表现更严重，导致在屏蔽室内形成驻波而产生较大的测量误差。

　　电波暗室：通常所说的电波暗室在结构上大都由屏蔽室和吸波材料两部分组成。在工程应用中又分全电波暗室和半电波暗室。全电波暗室可充当标准天线的校准场地，半电波暗室可作为EMC试验场地。电波暗室的主要性能指标有“静区”、“工作频率范围”等六个。但建造电波暗室的成本、难度均相当高，因为暗室的工作频率的下限取决于暗室的宽度和吸收材料的长度、上限取决于暗室的长度和所充许的静区的小截面积。且由于吸波材料的低频特性等原因，总的测试误差有时高达几十分贝。

　　由于开阔场、屏蔽室和电波暗室的部分缺点，1974年美国国家标准局的专家首先系统的论述了GTEM小室，其外形为上下两个对称梯形。GTEM小室具有结构简单、检测方法简便等特点。标准GTEM小室的测量尺寸大约限定在设计的zui小工作波长的四分之一范围，但对于小尺寸的被测件，可以满足测试的要求和技术指标。