TEM小室是电磁兼容领域用于辐射发射与抗扰度预测试的关键设备,凭借结构紧凑、成本低、无需暗室等优势,广泛应用于产品研发早期的EMI/EMS快速评估。其工作原理基于同轴传输线场结构,在内导体与外锥形壳体间形成均匀TEM波,模拟自由空间平面波。然而在实际使用中,可能会因端口失配、屏蔽泄漏、电缆耦合或校准失效,导致场强不均、测试重复性差甚至数据误判。科学识别
TEM小室问题并规范干预,确保场均匀、耦合准、数据真。

一、场强分布不均或中心偏移
原因分析:
被测设备(EUT)位置偏离中心轴线;
内导体支撑绝缘子老化变形,破坏同轴对称性;
内壁有金属异物或涂层剥落。
解决方法:
严格将EUT置于小室几何中心,使用非金属支架(如PEEK或泡沫);
定期检查内导体垂直度与绝缘子完整性,必要时更换;
清洁内壁,避免灰尘或金属碎屑影响场分布。
二、测试结果重复性差或波动大
原因分析:
测试电缆未固定,移动引起耦合变化;
外部环境电磁干扰(如WiFi、手机信号)串入;
功放输出不稳定或VSWR过高(反射严重)。
解决方法:
使用双屏蔽测试电缆(如RG400+编织层),并用扎带固定路径;
在屏蔽良好的实验室操作,关闭无关电子设备;
加装环形器或衰减器(3–6dB),降低反射,保护功放。
三、校准因子失效或场强偏低
原因分析:
未定期进行场强校准(通常每年一次);
接收天线(内导体)灵敏度漂移;
连接器氧化或接触不良(如N型头松动)。
解决方法:
依据IEC61000-4-20标准执行校准:使用标准场探头测量中心点场强,建立输入功率与场强关系曲线(V/mperW);
清洁所有射频连接器,涂抹专用导电润滑脂;
校准后更新测试软件中的校准因子文件。