开放式TEM小室怎么用？一文读懂标准操作步骤（SOP）

　　开放式TEM小室电磁测试工况中，被测件摆放偏移、端口匹配不良容易造成场强畸变，测试数据偏差。开放式TEM小室依靠芯板与外极板之间形成均匀横电磁波场，可开展辐射发射预测试、电场探头校准、小型器件辐射抗扰度试验，多用于PCB模组、小型电子件EMC摸底测试。熟悉开放式TEM小室正确使用方法，能够降低环境电磁干扰，保障测试重复性。
 

　　1、测试环境与设备就位
 

　　优先在屏蔽环境内布置小室，远离大型电机、射频设备等干扰源；将小室平稳放置在绝缘支撑台面上，调平底座，避免金属物体紧贴小室侧壁。检查两端射频端口、50Ω匹配负载、同轴电缆外观完好，接头无氧化磕碰，确认配套频谱仪、信号源阻抗设置为50Ω。
 

　　2、端口匹配与基线本底采集
 

　　根据试验类型连接端口，辐射发射测试时一端接频谱仪，另一端接上匹配负载；辐射抗扰度测试时一端接入信号源与功率放大器，另一端接匹配负载。连接完成后开启接收设备，不放置被测件，扫描记录环境本底噪声，标记环境干扰频点，区分样品辐射信号与外界干扰。
 

　　3、被测件布局与线缆整理
 

　　将被测样品放置在芯板下方中心均匀场区位置，样品不能触碰芯板、上下极板，不可超出均匀场区范围。样品供电线缆沿着小室外侧引出，线缆不要横跨芯板区域，线缆尽量缩短、理顺，避免线缆耦合引入额外辐射，长线缆必要时增加磁环抑制。
 

　　4、场域核对与参数设置(抗扰测试)
 

　　开展辐射抗扰度试验时，按照公式结合输入功率核算理论场强，使用电场探头在中心点位验证实际场强。在信号源设置测试频率、调制方式、场强等级，缓慢上调输出功率，避免功率突增损坏功放；确认场强稳定后再开始样品辐照。
 

　　5、辐射发射扫描测试
 

　　给被测件上电，保持样品处于正常工作状态，在频谱仪设置对应分辨率带宽、检波模式，开启最大保持曲线扫描。按要求切换样品摆放方向，分别测试不同极化方向的辐射信号，记录异常骚扰频点与幅值，对超标频点切换准峰值复测核验。
 

　　6、测试过程状态巡检
 

　　测试期间留意射频接头有无发热、松动，同轴线缆不要弯折挤压；观察被测器件工作状态，出现死机、异常复位及时记录。开放式结构容易受外界环境变动影响，出现曲线跳变时暂停测试，复核本底信号，排查外部干扰。
 

　　7、试验结束停机与拆除
 

　　逐步降低信号源输出功率后关闭激励源，先断开功放、信号源输出；辐射发射测试直接关闭样品供电。依次拆下射频线缆、匹配负载，接头加装保护帽，清理小室内部样品碎屑、导线杂物。
 

　　8、收纳与使用台账记录
 

　　清洁极板与芯板表面，盖上防尘保护罩；分类收纳线缆、负载、探头配件。记录本次测试条件、场强数值、本底干扰情况、接头损耗信息；长期存放时保持干燥，定期校验匹配负载、电场探头精度。